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        芯片檢查顯微鏡LWM400JT
         
           
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        上海測維芯片檢查顯微鏡LWM400JT

        大工作臺200*200,可選頭部/工作臺升降

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        芯片檢查顯微鏡LWM400JT上海測維產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
        LWM400JT芯片檢查顯微鏡適用于對不透明物體的進(jìn)行顯微觀(guān)察。配置大移動(dòng)范圍的機械式載物臺、落射照明器、內置偏光觀(guān)察裝置,具有圖像清晰、襯度好,造型美觀(guān),操作方便等特點(diǎn),是金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)等研究的理想儀器。適用于學(xué)校、科研、工廠(chǎng)等部門(mén)使用。

        芯片檢查顯微鏡LWM400JT上海測維產(chǎn)品特點(diǎn):
        1.  配置大視野目鏡和長(cháng)距平場(chǎng)消色差物鏡(無(wú)蓋玻片),視場(chǎng)大而清晰。
        2. 配置大移動(dòng)范圍的載物臺,能快速和慢速移動(dòng)。
        3.粗微動(dòng)同軸調焦機構,粗動(dòng)松緊可調,帶鎖緊和限位裝置,微動(dòng)格值:2μm。
        4. 6V 20W鹵素燈,亮度可調。
        5. 三目鏡筒,可自由切換正常觀(guān)察與偏光觀(guān)察,可進(jìn)行100%透光攝影

        芯片檢查顯微鏡LWM400JT上海測維產(chǎn)品技術(shù)參數:
        1、三目鏡筒:傾斜30 °,瞳距55mm-75mm,視度±5°
        2、目鏡:WF10X/18mm
        3、長(cháng)距平場(chǎng)消色差物鏡(無(wú)蓋玻片)
        PL 5X/0.12 、PL L10X/0.25 、PL L20X/0.40
        PL L40X/0.60 、PL L80X/0.8
        4、總放大倍數:50X-800X
        5、載物臺:尺寸: 280mm×270mm,移動(dòng)范圍: 204mm×204mm
        6、調焦:粗微動(dòng)同軸 升降范圍25mm ,微動(dòng)格值0.002mm
        7、光 源:柯勒照明 濾色片座 可調鹵素燈6V20W
        8、正交偏光裝置

        芯片檢查顯微鏡LWM400JT上海測維產(chǎn)品選購件:
        1、目鏡:WF16X/11mm,WF20X/9mm,10X帶尺可調目鏡
        2、長(cháng)距平場(chǎng)消色差物鏡(無(wú)蓋玻片) PL L 50X/0.70、 PL L 60X/0.75 (彈簧)、 PL L 100X/0.85 (彈簧),平場(chǎng)消色差物鏡(無(wú)蓋玻片): PL 100X/1.25  (彈簧,油)
        3、攝像系統:數碼攝像頭130萬(wàn)或300萬(wàn),數碼相機
        4、測量軟件,金相分析軟件等

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